全国专家学者齐聚南通研讨测试容错技术

7月22—24日，由中国计算机学会主办，中国计算机学会容错计算专业委员会和南通大学共同承办的第九届中国测试学术会议在南通召开。来自全国的两百多名专家学者围绕测试容错技术领域的前沿问题展开学术交流和研讨。副校长丁斐出席会议开幕式并致辞。

随着科技的不断进步，集成电路已经被广泛地应用于医疗器械、航空航天、汽车电子等各种领域中，与我们的生活息息相关。测试与容错技术正是不断提高其可靠性的重要科学手段。

丁斐在致辞中向与会专家介绍了南通大学的历史沿革、基本概况、办学理念、发展战略，以及近年来在学科建设、科学研究、人才培养等方面取得的突出成绩。丁斐指出，此次会议的召开，不仅为我校创造了与测试容错技术领域专家学者难得的学习交流机会，而且有利于进一步促进我校信息与通信、计算机、电子电气等相关学科的发展。她衷心希望与会专家对我校的学科建设、人才培养提出宝贵的意见和建议。

国家自然科学基金委员会信息科学学部副巡视员、战略规划与综合处处长何杰研究员介绍了基金委的主要工作，希望通过此类学术会议的召开，进一步聚焦学术前沿问题，推进我国测试与容错技术的研究和发展，使国家自然科学基金发挥最大的效用。大会程序主席、我校电子信息学院副院长孙玲介绍了本次会议的筹备情况。

会议期间，围绕测试理论与技术、容错计算、可信计算、硬件安全、新工艺/器件可靠性与新计算模型以及测试、容错、可信技术的应用等主题，与会专家学者进行了深入交流。会议还特邀希腊雅典大学DimitrisGizopoulos教授、香港中文大学吕荣聪教授和日本九州工业大学温晓青教授做大会报告。三位专家分别从处理器、软件可靠性和集成电路测试三方面分享了他们的观点。

同时，会议分专题组织了八个分组报告会，50余位代表分享了各自在测试、容错、可信、硬件安全等方面的研究成果。在常规学术论文程序外，还举办了第一届硬件安全论坛和DAC论坛。第一届硬件安全论坛特邀美国马里兰大学屈钢教授做主题报告，来自360、香港中文大学等单位的8位专家学者做主题报告，论坛还组织了原型展示赛活动，并评选出优秀展示奖。设计自动化会议（DAC）是集成电路领域的顶级会议，会议另辟了DAC论坛，邀请清华大学、中科院计算所、复旦大学等单位的5位青年学者，报告他们发表在今年DAC上的论文，论坛还组织了“机器学习是否是芯片和EDA的灵丹妙药”Panel，现场讨论气氛非常火爆。

（校报记者  陈妍）

第九届中国测试学术会议在南通召开。